Título/s: How reliable are Hanle measurements in metals in a three-terminal geometry?
Autor/es: Txoperena, Oihana; Gobbi, Marco; Bedoya-Pinto, Amilcar; Golmar, Federico; Sun, Xiangnan; Hueso, Luis E.; Casanova, Félix
Institución: CIC nanoGUNE. Donostia – San Sebastián, ES
INTI-Electrónica e Informática. Buenos Aires, AR
IKERBASQUE, Basque Foundation for Science. Bilbao, ES
Editor: American Institute of Physics
Palabras clave: Mediciones eléctricas; Metales; Aluminio; Oro; Semiconductores; Temperatura; Voltaje
Idioma: eng
Fecha: 2013
Ver+/-
Ver el documento (formato PDF)Descargar
Atrás