Término solicitado: CONFIABILIDAD/(66)
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| Título: | MICROELECTRONICS AND RELIABILITY |
| URL: | http://www.sciencedirect.com/science/journal/00262714 |
| ISSN: | 0026-2714 |
| Edición: | NEW YORK. US |
| Descriptores: | MICROELECTRONICA; COMPUTACION; CIRCUITOS; DISEÑO; SOFTWARE; HARDWARE; FRECUENCIA; CONFIABILIDAD |
| Ubicación: | 2290 - DEPO |
| Colección: | año/s, volumen/es(números) 1993, 33 1994, 34(1-2) |
Fin
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